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GB/T 10236-1988
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半导体电力变流器与电网互相干扰及其防护方法导则 |
废止 |
1990-01-01 |
找相似 |
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GB/T 249-1989
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半导体分立器件型号命名方法 |
废止 |
1990-04-01 |
找相似 |
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GB/T 3430-1989
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半导体集成电路型号命名方法 |
废止 |
1990-04-01 |
找相似 |
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GB/T 14028-1992
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半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 |
废止 |
1993-08-01 |
找相似 |
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GB/T 15136-1994
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半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理 |
废止 |
1995-02-01 |
找相似 |
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GB/T 4377-1996
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半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 |
废止 |
1997-01-01 |
找相似 |
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GB/T 8446.2-2004
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电力半导体器件用散热器 第2部分:热阻和流阻测试方法 |
废止 |
2004-08-01 |
找相似 |
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GB/T 21548-2008
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光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法 |
废止 |
2008-11-01 |
找相似 |
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GB/T 6616-2009
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半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 |
废止 |
2010-06-01 |
找相似 |
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GB/T 1555-2009
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半导体单晶晶向测定方法 |
废止 |
2010-06-01 |
找相似 |
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T/CVIA 134-2024
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半导体激光器器件测试方法 |
现行 |
2024-05-20 |
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GB/T 4937.25-2025
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半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分：温度循环 |
即将实施 |
2026-07-01 |
找相似 |
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GB/T 4937.24-2025
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半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分：加速耐湿 无偏置强加速应力试验 |
即将实施 |
2026-07-01 |
找相似 |
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GB/T 4937.29-2025
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半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验 |
即将实施 |
2026-07-01 |
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GB/T 4937.33-2025
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半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分：加速耐湿 无偏置高压蒸煮 |
即将实施 |
2026-07-01 |
找相似 |
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GB/T 4937.36-2025
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半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度 |
即将实施 |
2026-07-01 |
找相似 |
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GB/T 4937.38-2025
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半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法 |
即将实施 |
2026-07-01 |
找相似 |
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GB/T 4937.44-2025
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半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法 |
即将实施 |
2026-07-01 |
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