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T/CASAS 016-2022
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碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法 |
现行 |
2022-07-18 |
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T/CASAS 015-2022
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碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）功率循环试验方法 |
现行 |
2022-07-18 |
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T/GVS 006-2022
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半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳定性测量方法 |
现行 |
2022-05-27 |
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T/IAWBS 004-2021
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电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法 |
现行 |
2021-09-23 |
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T/IAWBS 004-2017
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电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法 |
现行 |
2017-12-31 |
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YD/T 2001.2-2011
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用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分：测试方法 |
现行 |
2012-02-01 |
找相似 |
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SJ/T 2214-2015
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半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 |
现行 |
2015-10-01 |
找相似 |
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SJ/T 2658.6-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第6部分：辐射功率 |
现行 |
2016-04-01 |
找相似 |
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SJ/T 2658.5-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻 |
现行 |
2016-04-01 |
找相似 |
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SJ/T 2215-2015
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半导体光电耦合器测试方法 |
现行 |
2015-10-01 |
找相似 |
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SJ/T 2658.10-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第10部分：调制带宽 |
现行 |
2016-04-01 |
找相似 |
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SJ/T 2658.4-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容 |
现行 |
2016-04-01 |
找相似 |
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SJ/T 2658.7-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量 |
现行 |
2016-04-01 |
找相似 |
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SJ/T 2658.2-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压 |
现行 |
2016-04-01 |
找相似 |
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SJ/T 2658.1-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则 |
现行 |
2016-04-01 |
找相似 |
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SJ/T 2658.12-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽 |
现行 |
2016-04-01 |
找相似 |
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SJ/T 2658.8-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度 |
现行 |
2016-04-01 |
找相似 |
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SJ/T 2749-2016
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半导体激光二极管测试方法 |
现行 |
2016-06-01 |
找相似 |