半导体材料牌号表示方法

Designations of semiconductor materials

GB/T 14844-2018推荐性国家标准

现行

GB/T 14844-2018 相似标准 第9页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态实施日期相似标准
GB/T 43967-2024空间环境 宇航用半导体器件单粒子效应脉冲激光试验方法现行2024-04-25找相似
DB32/T 4894-2024微机电系统半导体气体传感器性能检测方法 [江苏省]现行2024-12-07找相似
GB/T 35006-2018半导体集成电路 电平转换器测试方法现行2018-08-01找相似
GB/T 44924-2024半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法现行2025-04-01找相似
GB/T 36474-2018半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法现行2019-01-01找相似
GB/T 14032-1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理现行1993-08-01找相似
GB/T 26070-2010化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法现行2011-10-01找相似
GB/T 36005-2018半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法现行2018-10-01找相似
DB13/T 6033-2024半导体器件低浓度氢效应试验方法 [河北省]现行2024-11-28找相似
GB/T 249-2017半导体分立器件型号命名方法废止2017-12-01找相似
GB/T 43061-2023半导体集成电路 PWM控制器测试方法现行2024-04-01找相似
GB/T 24468-2025半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)测量方法即将实施2026-05-01找相似
GB/T 36477-2018半导体集成电路 快闪存储器测试方法现行2019-01-01找相似
GB/T 14115-1993半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理现行1993-08-01找相似
GB/T 42975-2023半导体集成电路 驱动器测试方法现行2024-01-01找相似
GB/T 249-2026半导体分立器件型号命名方法即将实施2026-09-01找相似
GB/T 4326-2025非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法即将实施2026-05-01找相似
T/CCGA 90004-2023泛半导体用尾气处理设备分解 移除效率的测试方法现行2024-01-18——