| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 14146-2021 | 硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 42902-2023 | 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 14847-2025 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/IAWBS 002-2017 | 碳化硅外延片表面缺陷测试方法 | 现行 | 2017-12-20 | 2017-12-31 |
| GB/T 42905-2023 | 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法（外文版EN） | 现行 | 2024-04-12 | |
| SJ/T 11471-2014 | 发光二极管外延片测试方法 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| T/IAWBS 002-2017 | 碳化硅外延片表面缺陷测试方法 | 现行 | 2017-12-20 | 2017-12-31 |
| YD/T 3835.2-2023 | 量子密钥分发（QKD）系统测试方法 第2部分：基于高斯调制相干态协议的QKD系统 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-04-01 |
| YD/T 3835.1-2021 | 量子密钥分发(QKD)系统测试方法 第1部分：基于诱骗态BB84协议的QKD系统 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-04-01 |
| GB/T 42976-2023 | 纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-04-01 |
| GB/T 47468-2026 | 量子计算系统性能测试方法 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 47679.2-2026 | 网络安全技术 量子密钥分发的安全要求、测试和评估方法 第2部分：测试和评估方法 | 即将实施 | 2026-05-25 | 2026-12-01 |
| GB/T 47679.1-2026 | 网络安全技术 量子密钥分发的安全要求、测试和评估方法 第1部分：要求 | 即将实施 | 2026-05-25 | 2026-12-01 |
| GB/T 14015-1992 | 硅-蓝宝石外延片 | 现行 | 1992-12-28 | 1993-08-01 |
| GB/T 44334-2024 | 埋层硅外延片 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 8758-2006 | 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 | 现行 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 24575-2009 | 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 14139-2019 | 硅外延片 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |