Thermal spraying coating - Nondestructive methods for measurement of thickness
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 15620-2026 | 无损检测仪器携带式涂层耐蚀性电化学检测仪 | 即将实施 | 2026-12-01 | 找相似 |
| GB/T 8758-2006 | 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 | 现行 | 2006-11-01 | 找相似 |
| GB/T 2951.11-2008 | 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第11部分：通用试验方法厚度和外形尺寸测量 机械性能试验 | 现行 | 2009-04-01 | 找相似 |
| GB/T 8014.3-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第3部分:分光束显微镜法 | 现行 | 2005-12-01 | 找相似 |
| GB/T 8014.2-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第2部分:质量损失法 | 现行 | 2005-12-01 | 找相似 |
| GB/T 6463-2005 | 金属和其它无机覆盖层厚度测量方法评述 | 现行 | 2005-12-01 | 找相似 |
| GB/T 8014.1-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第1部分:测量原则 | 现行 | 2005-12-01 | 找相似 |
| GB/T 23285-2009 | 缩微摄影技术 开窗卡增厚区厚度的测量方法 | 现行 | 2009-09-01 | 找相似 |
| GB/T 43682-2024 | 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 31225-2014 | 椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法 | 现行 | 2015-04-15 | 找相似 |
| GB/T 14847-2010 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 | 废止 | 2011-10-01 | 找相似 |
| GB/T 7991.5-2014 | 搪玻璃层试验方法 第5部分：用电磁法测量厚度 | 现行 | 2015-07-01 | 找相似 |
| GB/T 40128-2021 | 表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| GB/T 17722-1999 | 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 | 废止 | 1999-12-01 | 找相似 |
| GB/T 17722-2026 | 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 | 即将实施 | 2026-08-01 | 找相似 |
| GB/T 47182-2026 | 微束分析 分析电子显微术 核壳颗粒壳壁厚度的测量方法 | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-17 | —— |
| YS/T 14-2015 | 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |