首页/GB/T 42838-2023 相似标准

半导体集成电路 霍尔电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

GB/T 42838-2023推荐性国家标准

现行

上传时间：2026-02-09
格式：pdf

GB/T 42838-2023 相似标准 第3页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第1部分:总则现行1996-07-091997-01-01
GB/T 14862-1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法现行1993-12-301994-10-01
GB/T 20870.2-2023半导体器件 第16-2部分：微波集成电路 预分频器现行2023-09-072023-09-07
GB/T 20870.5-2023半导体器件 第16-5部分：微波集成电路 振荡器现行2023-09-072024-01-01
GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路现行1998-11-171999-06-01
GB/T 17573-1998半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则现行1998-11-171999-06-01
GB/T 9424-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 17572-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 14030-1992半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理现行1992-12-171993-08-01
GB/T 42836-2023微波半导体集成电路 混频器现行2023-08-062023-12-01
GB/T 42970-2023半导体集成电路 视频编解码电路测试方法现行2023-09-072024-01-01
GB/T 13062-2018半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)现行2018-12-282019-07-01
GB/T 43035-2023半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求现行2023-09-072023-09-07
GB/T 11498-2018半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)现行2018-12-282019-07-01
GB/T 20870.10-2023半导体器件 第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序现行2023-09-072024-01-01
GB/T 9425-1988半导体集成电路运算放大器空白详细规范 (可供认证用)现行1988-06-231989-02-01
GB/T 20870.4-2024半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关现行2024-10-262024-10-26
GB/T 35007-2018半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法现行2018-03-152018-08-01