Series and products for semiconductor TTL integrated circuits--Products of 54/74 ALS family
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 13150-2005 | 半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范 | 现行 | 2005-10-01 | 找相似 |
| GB/T 11685-2003 | 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 | 现行 | 2004-01-01 | 找相似 |
| GB/T 18904.1-2002 | 半导体器件 第12-1部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范 | 现行 | 2003-05-01 | 找相似 |
| GB/T 6589-2002 | 半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管 电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管) 空白详细规范 | 现行 | 2003-05-01 | 找相似 |
| GB/T 18904.4-2002 | 半导体器件 第12-4部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范 | 现行 | 2003-05-01 | 找相似 |
| GB/T 18904.2-2002 | 半导体器件 第12-2部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范 | 现行 | 2003-05-01 | 找相似 |
| GB/T 44181-2024 | 空间环境 宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法 | 现行 | 2024-07-24 | 找相似 |
| GB/T 15653-1995 | 金属氧化物半导体气敏元件测试方法 | 现行 | 1996-04-01 | 找相似 |
| GB/T 14844-2018 | 半导体材料牌号表示方法 | 现行 | 2019-11-01 | 找相似 |
| GB/T 15529-1995 | 半导体发光数码管空白详细规范 | 现行 | 1995-11-01 | 找相似 |
| GB/T 39771.1-2021 | 半导体发光二极管光辐射安全 第1部分：要求与等级分类方法 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| DB61/T 1448-2021 | 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程 [陕西省] | 废止 | 2021-04-22 | 找相似 |
| GB/T 4937.1-2006 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则 | 现行 | 2007-02-01 | 找相似 |
| GB/T 20522-2006 | 半导体器件 第14-3部分: 半导体传感器-压力传感器 | 现行 | 2007-02-01 | 找相似 |
| GB/T 20521-2006 | 半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类 | 现行 | 2007-02-01 | 找相似 |
| GB/T 4937.2-2006 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压 | 现行 | 2007-02-01 | 找相似 |
| GB/T 8446.2-2022 | 电力半导体器件用散热器 第2部分：热阻和流阻测量方法 | 现行 | 2022-10-01 | 找相似 |
| GB/T 37031-2018 | 半导体照明术语 | 现行 | 2018-12-28 | 找相似 |