YS/T 422.1-2000 相似标准 第6页

更新时间 2026-10-28
标准号标准名称状态实施日期相似标准
GB/T 34520.7-2017连续碳化硅纤维测试方法 第7部分:高温强度保留率现行2018-02-01找相似
GB/T 42277-2022水泥胶砂碳化性试验方法现行2023-04-01找相似
GB/T 46224-2025碳化物球化程度的评定方法即将实施2026-03-01找相似
JB/T 14612-2023碳化硅特种制品 硅碳棒电加热加速老化试验方法现行2024-07-01找相似
GB/T 41737-2022铝基复合材料 碳化硅体积分数试验方法 溶解法现行2023-02-01找相似
GB/T 34520.6-2017连续碳化硅纤维测试方法 第6部分:电阻率现行2018-02-01找相似
GB/T 34520.8-2021连续碳化硅纤维测试方法 第8部分:氧含量现行2022-03-01找相似
GB/T 41765-2022碳化硅单晶位错密度的测试方法现行2023-05-01找相似
GB/T 30868-2025碳化硅单晶片微管密度测试方法现行2026-02-01找相似
GB/T 47082-2026碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法即将实施2026-08-01找相似
GB/T 44870-2024纤维碳化生产成套装备的术语、分类及型号编制方法现行2025-06-01找相似
T/CASAS 016-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)结壳热阻瞬态双界面测试方法现行2022-07-18——
T/CASAS 015-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)功率循环试验方法现行2022-07-18——
T/IAWBS 016-2022碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法现行2022-03-24——
T/CASAS 013-2021碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法现行2021-12-01——
T/IAWBS 014-2021碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法现行2021-09-22——
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-31——
T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法现行2019-12-31——