Calibration Specification for Semiconductor Parameters Precision Analyzers
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 20726-2025 | 微束分析 扫描电子显微镜（SEM）或电子探针显微分析仪（EPMA）用X射线能谱仪（EDS）主要性能参数及核查方法 | 即将实施 | 2026-03-01 | 找相似 |
| T/SXICS 006-2024 | 多参数水质分析仪校准规范 | 现行 | 2024-10-08 | —— |
| JB/T 9399-1999 | X射线分析仪器 主参数系列 | 废止 | 2000-01-01 | 找相似 |
| JBT13738-2019 | 便携式多参数水质分析仪 | 现行 | 2020-04-01 | 找相似 |
| GB/T 12565-1990 | 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用) | 现行 | 1991-10-01 | 找相似 |
| GB/T 6798-1996 | 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 | 现行 | 1997-01-01 | 找相似 |
| GB/T 8750-2022 | 半导体封装用金基键合丝、带 | 现行 | 2023-07-01 | 找相似 |
| SN/T 3480.4-2016 | 进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分：半导体封装测试设备 | 现行 | 2017-03-01 | 找相似 |
| GB/T 12669-2012 | 半导体变流串级调速装置总技术条件 | 现行 | 2012-11-01 | 找相似 |
| GB/T 43894.1-2024 | 半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分：高度径向二阶导数法（ZDD） | 现行 | 2024-11-01 | 找相似 |
| GB/T 14028-2018 | 半导体集成电路 模拟开关测试方法 | 现行 | 2018-08-01 | 找相似 |
| GB/T 43226-2023 | 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 | 现行 | 2024-01-01 | 找相似 |
| GB/T 42838-2023 | 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| GB/T 29856-2013 | 半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法 | 现行 | 2014-04-15 | 找相似 |
| DB34/ 4294-2022 | 半导体行业水污染物排放标准 [安徽省] | 现行 | 2023-01-01 | 找相似 |
| GB/T 36359-2018 | 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2019-01-01 | 找相似 |
| GB/T 15872-2013 | 半导体设备电源接口 | 现行 | 2014-05-15 | 找相似 |
| GB/T 43366-2023 | 宇航用半导体分立器件通用规范 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |