Calibration Specification for Semiconductor Parameters Precision Analyzers
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| JJF 2009-2022 | 半导体参数精密分析仪校准规范 | 现行 | 2023-06-07 | 相似 |
| GB/T 6589-2002 | 半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管 电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管) 空白详细规范 | 现行 | 2003-05-01 | 相似 |
| SJ/T 10266-1991 | 半导体集成电路CF714型精密带运算放大器详细规范 | 现行 | 1992-01-01 | 相似 |
| GB/T 43136-2023 | 超硬磨料制品 半导体芯片精密划切用砂轮 | 现行 | 2024-04-01 | 相似 |
| GB/T 44687-2024 | 超硬磨料制品 半导体晶圆精密磨削用砂轮 | 现行 | 2025-04-01 | 相似 |
| SJ/T 10255-1991 | 半导体集成电路CW1403型精密带隙电压基准详细规范 | 现行 | 1992-01-01 | 相似 |
| T/ZSA 167-2023 | 分析仪器稳定性评价 第1部分：基于标准方法精密度的评价 | 现行 | 2023-11-11 | —— |
| T/CSTM 00277.2-2022 | 分析仪器稳定性评价 第2部分：基于实验室内测定结果精密度的评价 | 现行 | 2023-03-09 | —— |
| T/CSTM 00277.1-2022 | 分析仪器稳定性评价 第1部分：基于标准方法精密度的评价 | 现行 | 2023-03-09 | —— |
| DB52/T 587-2009 | 自动工业分析仪精密度和准确度校验方法 | 废止 | 2009-12-10 | 相似 |
| SJ/T 11820-2022 | 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 | 现行 | 2023-01-01 | 相似 |
| JJF 1895-2021 | 半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范 | 现行 | 2021-08-23 | 相似 |
| SJ/T 12032-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法 | 现行 | 2026-03-01 | 相似 |
| SJ/T 12069-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法 | 现行 | 2026-07-01 | 相似 |
| T/QGCML 3970-2024 | 半导体车间金属粉尘智能检测分析系统 | 现行 | 2024-04-11 | —— |
| GB/T 4298-1984 | 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 | 废止 | 1985-03-01 | 相似 |
| JB/T 9399-2010 | X射线分析仪器主参数系列 | 现行 | 2010-07-01 | 相似 |
| JB/T 13738-2019 | 便携式多参数水质分析仪 | 现行 | 2020-04-01 | 相似 |