LED外延芯片用砷化镓衬底

GaAs substrates for LED epitaxial chips

GB/T 30856-2014推荐性国家标准

废止

GB/T 30856-2014 相似标准 第4页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态实施日期相似标准
YS/T 741-2010氧化镓现行2011-03-01找相似
GB/T 20229-2022磷化镓单晶现行2022-10-01找相似
GB/T 41751-2022氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法现行2023-02-01找相似
GB/T 32188-2015氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2016-11-01找相似
GB/T 36705-2018氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法现行2019-06-01找相似
GB/T 37466-2019氮化镓激光剥离设备现行2019-10-01找相似
GB/T 39144-2020氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法现行2021-09-01找相似
T/CASAS 022-2022三相智能电表用氮化镓场效应晶体管通用技术规范现行2022-12-09——
T/ZSA 231-2024氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2024-05-16——
T/CASAS 031-2023面向5G基站应用的Sub-6GHz氮化镓功放 模块测试方法现行2023-07-01——
T/CASAS 005-2022用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法现行2022-09-16——
T/CASAS 035-2024用于第三象限续流的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)动态导通电阻测试方法现行2024-09-30——
T/CASAS 034-2024用于零电压软开通电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法现行2024-09-30——
T/IAWBS 015-2021氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2021-09-22——
T/CASAS 010-2019氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法现行2019-11-25——
YS/T 1654-2023氮化镓化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法现行2024-07-01找相似
YS/T 1653-2023氮化镓衬底片现行2024-07-01找相似
SJ/T 11396-2009氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片废止2010-01-01找相似