| GB/T 4193-1984 | 电真空器件及电光源用细钨丝、钼丝和薄带密度的测试方法 | 现行 | 1984-03-09 | 1984-11-01 |
| GB/T 18311.2-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-2部分:检查和测量 单模纤维光学器件偏振依赖性 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
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