| GB/T 20516-2006 | 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件 | 现行 | 2006-10-10 | 2007-02-01 |
| GB/T 20636-2006 | 连接器件 电气铜导线 螺纹型和非螺纹型夹紧件的安全要求 适用于35mm2以上至300mm2导线的特殊要求 | 现行 | 2006-11-08 | 2007-04-01 |
| GB/T 4589.1-2006 | 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 | 现行 | 2006-10-10 | 2007-02-01 |
| GB/T 6495.7-2006 | 光伏器件 第7部分：光伏器件测量过程中引起的光谱失配误差的计算 | 废止 | 2006-10-10 | 2007-02-01 |
| GB/T 20515-2006 | 半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路 | 现行 | 2006-10-10 | 2007-02-01 |
| GB/T 6495.9-2006 | 光伏器件 第9部分：太阳模拟器性能要求 | 废止 | 2006-10-10 | 2007-02-01 |
| GB/T 17574.10-2003 | 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.34-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-34部分:检查和测量 随机配接连接器的衰减 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 15651.2-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18310.22-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-22部分:试验 温度变化 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.5-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-5部分:检查和测量 衰减对波长的依赖性 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.4-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-4部分:检查和测量 衰减 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 19404-2003 | 微波铁氧体器件主要性能测量方法 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18310.14-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-14部分:试验 最大输入功率 | 废止 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18310.17-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-17部分:试验 低温 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |