微机电(MEMS)器件晶圆键合试验评价方法

Test evaluation method for wafer level bonding of MEMS device

T/CIE 146-2022信息传输、软件和信息技术服务业

现行

更新日期:2026-09-12

标准状态

发布日期

2022-12-31

实施日期

2023-01-31

基础信息

标准号

T/CIE 146-2022

团体名称

中国电子学会

包含专利

否

标准分类

国际标准分类号

31.200

行业分类

I6520 集成电路设计

标准层级

团体标准

主要技术内容

本文件规定了对MEMS器件晶圆键合开展试验评价的方法和程序。本文件适用于基于晶圆键合工艺加工的MEMS器件,包括MEMS器件成品结构、晶圆键合工艺过程结构等,可用于MEMS器件的提供者、使用者和第三方评价MEMS器件晶圆键合结构的可靠性。注: 此处第三方是指在MEMS器件产品交付过程中进行认证和提供鉴定、试验等服务的独立机构。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、北京大学、中国兵器工业第二一四研究所

起草人

董显山、来萍、韦覃如、周斌、黄钦文、何小琦、杨少华、苏伟、李仕远、杜贵祯、赵前程、鞠丽娜

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