半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)

GB/T 36474-2018推荐性国家标准

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GB/T 36474-2018 相似标准 第8页

更新时间 2026-10-25
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