| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/BDT 003-2024 | 高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备 | 现行 | 2024-10-09 | 2024-10-10 |
| T/ISC 0061-2024 | 通用处理器芯片硬件漏洞分类分级标准 | 现行 | 2024-09-03 | 2024-10-03 |
| T/SILA 016-2024 | 智能照明射频识别（RFID）芯片应用 技术规范 | 现行 | 2024-08-22 | 2024-08-22 |
| T/CAME 58-2023 | 化学发光免疫分析微流控芯片 | 现行 | 2023-04-28 | 2023-04-28 |
| T/SZROBOT 0005-2023 | 挂载智能芯片的边缘视觉模组技术要求 | 现行 | 2023-06-13 | 2023-06-28 |
| T/QGCML 585-2022 | LED芯片技术规范 | 现行 | 2022-12-26 | 2023-01-03 |
| T/SICA 003-2022 | 基于RFID传输和存储技术的双频多接口温湿度检测标签芯片技术规范 | 现行 | 2022-10-31 | 2022-11-30 |
| T/CIE 134-2022 | 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法 | 现行 | 2022-08-10 | 2022-08-10 |
| T/SICA 002-2022 | 面向典型工业场景的通用5G终端芯片及模组增强技术要求 | 现行 | 2022-06-13 | 2022-07-13 |
| T/CIE 126-2021 | 磁随机存储芯片测试方法 | 现行 | 2021-12-23 | 2022-02-10 |
| T/CIITA 104-2021 | PKS体系 以太网交换芯片参考板 | 现行 | 2021-12-20 | 2022-02-01 |
| T/CESA 1121-2020 | 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-10-30 | 2020-11-10 |
| T/CESA 1120-2020 | 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-10-30 | 2020-11-10 |
| T/CESA 1119-2020 | 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2020-10-30 | 2020-11-10 |
| T/CIE 073-2020 | 工业级高可靠集成电路评价 第8部分： MCU芯片 | 现行 | 2020-06-08 | 2020-08-15 |
| T/CIE 071-2020 | 工业级高可靠集成电路评价 第6部分：蓝牙芯片 | 现行 | 2020-06-08 | 2020-08-15 |
| T/ZSA 67.5-2019 | 移动智能终端密码模块技术框架 第 5 部分:基于安全芯片的技术架构 | 现行 | 2019-12-31 | 2020-03-01 |
| T/CSPSTC 11-2018 | 食品中常规致病菌快速检测方法 恒温扩增芯片法 | 现行 | 2018-09-01 | 2018-11-15 |