YS/T 27-1992 相似标准 第2页

更新时间 2026-10-28
标准号标准名称状态实施日期相似标准
T/ZZB 0497-2018声表面波器件用单晶晶片现行2018-09-30——
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GB/T 13387-2009硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法现行2010-06-01找相似
GB/T 34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法现行2018-07-01找相似
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-31——
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-31——
SJ/T 11487-2015半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法现行2015-10-01找相似
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-31——
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-31——
T/CECA 83-2023钽酸锂和铌酸锂还原单晶晶片 明度和色差技术要求及测量方法现行2023-06-20——
GB/T 45768-2025表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性现行2026-01-01找相似
T/CNTAC 46-2020光面织物表面毛羽长度的测定方法 投影计数法现行2020-01-06——
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GB/T 43894.1-2024半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD)现行2024-11-01找相似
GB/T 26071-2018太阳能电池用硅单晶片废止2019-06-01找相似
GB/T 16595-2019晶片通用网格规范现行2020-02-01找相似
GB/T 14140-2025半导体晶片直径测试方法现行2026-02-01找相似
GB/T 44631-2024晶片承载器传输并行接口要求现行2025-04-01找相似