YS/T 27-1992 相似标准 第1页

更新时间 2026-10-28
标准号标准名称状态实施日期相似标准
YS/T 27-1992晶片表面微粒沾污测量和计数的方法现行1993-01-01相似
GB/T 24578-2024半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法现行2025-02-01相似
YS/T 1703-2024晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法现行2025-05-01相似
GB/T 24578-2015硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法废止2017-01-01相似
T/ZQBJXH 018-2021铝表面抗沾污粉末涂料现行2021-08-30——
GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法现行2011-08-01相似
GB/T 30118-2013声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法现行2014-05-15相似
GB/T 30118-2026声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法即将实施2027-03-01相似
GB/T 24580-2009重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法现行2010-06-01相似
GB/T 41424.1-2022皮革 沾污性能的测定 第1部分:翻滚法现行2022-11-01相似
GB/T 30159.1-2013纺织品 防污性能的检测和评价 第1部分:耐沾污性现行2014-10-15相似
GB/T 9780-2013建筑涂料涂层耐沾污性试验方法现行2014-08-01相似
QB/T 5253.1-2018皮革 物理和机械试验 沾污性能的测定 第1部分:马丁代尔摩擦法现行2018-09-01相似
T/CSEE 0054-2017煤灰沾污特性的测定及判别 烧结法现行2018-05-01——
GB/T 41424.2-2025皮革 沾污性能的测定 第2部分:马丁代尔摩擦法即将实施2026-05-01相似
T/CSEE 0054-2017煤灰沾污特性的测定及判别 烧结法现行2018-05-01——
GB/T 26070-2010化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法现行2011-10-01相似
T/CASAS 032-2023碳化硅晶片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法现行2023-06-19——