首页/GB/T 34520.4-2017 相似标准

连续碳化硅纤维测试方法 第4部分：束丝拉伸性能

Test methods for continuous silicon carbide fiber—Part 4：Tensile properties of filament yarn

GB/T 34520.4-2017推荐性国家标准

现行

上传时间：2026-02-27
格式：pdf

GB/T 34520.4-2017 相似标准 第2页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 006-2018碳化硅混合模块测试方法现行2018-12-062018-12-17
T/IAWBS 002-2017碳化硅外延片表面缺陷测试方法现行2017-12-202017-12-31
SJ/T 11501-2015碳化硅单晶晶型的测试方法现行2015-04-302015-10-01
SJ/T 11503-2015碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法现行2015-04-302015-10-01
SJ/T 11504-2015碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法现行2015-04-302015-10-01
SJ/T 11500-2015碳化硅单晶晶向的测试方法现行2015-04-302015-10-01
GB/T 32278-2015碳化硅单晶片平整度测试方法废止2015-12-102017-01-01
GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法废止2014-07-242015-02-01
GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法废止2014-07-242015-02-01
SJ/T 11499-2015碳化硅单晶电学性能的测试方法废止2015-04-302015-10-01
T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 006-2018碳化硅混合模块测试方法现行2018-12-062018-12-17
T/IAWBS 002-2017碳化硅外延片表面缺陷测试方法现行2017-12-202017-12-31
T/CSAE 232-2021电动汽车碳化硅电机控制器效率测试方法现行2021-10-262021-10-26
SJ/T 12032-2025半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12069-2025半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法现行2025-12-192026-07-01
GB/T 42905-2023碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法现行2023-08-062024-03-01