YS/T 1703-2024 相似标准 第3页

更新时间 2026-10-28
标准号标准名称状态实施日期相似标准
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T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-31——
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-31——
T/IAWBS 008-2019SiC晶片的残余应力检测方法现行2019-12-31——
T/WLJC 59-2019石英晶片倒边波形筒现行2019-04-22——
T/WLJC 58-2019晶片精密研磨盘用修正轮现行2019-04-22——
T/WLJC 57-2019晶片精密研磨盘现行2019-04-22——
YS/T 986-2014晶片正面系列字母数字标志规范现行2015-04-01找相似
SJ/T 11497-2015砷化镓晶片热稳定性的试验方法现行2015-10-01找相似
SJ/T 11487-2015半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法现行2015-10-01找相似
SJ/T 11492-2015光致发光法测定磷镓砷晶片的组分现行2015-10-01找相似
GZB 6-08-02-05压电石英晶片加工工现行2003-02-08找相似
GB/T 5238-2009锗单晶和锗单晶片(外文版EN)废止——找相似
GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法废止2015-02-01找相似
GB/T 43894.3-2026半导体晶片近边缘几何形态评价 第3部分:扇形区域平整度法(ESFQR、ESFQD、ESBIR)即将实施2027-02-01找相似
GB/T 16596-1996确定晶片坐标系规范废止1997-04-01找相似
GB/T 16595-1996晶片通用网格规范废止1997-04-01找相似
GB/T 5238-2009锗单晶和锗单晶片废止2010-06-01找相似