| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GZB 6-08-02-05 | 压电石英晶片加工工 | 现行 | 2003-02-08 | 相似 |
| GB/T 32988-2016 | 人造石英光学低通滤波器晶片 | 现行 | 2017-09-01 | 相似 |
| T/WLJC 59-2019 | 石英晶片倒边波形筒 | 现行 | 2019-04-22 | —— |
| T/WLJC 59-2019 | 石英晶片倒边波形筒 | 现行 | 2019-04-22 | —— |
| T/CECA 48-2021 | 石英晶体微天平晶片 | 现行 | 2021-03-15 | —— |
| SJ/T 11199-2016 | 压电石英晶体片 | 现行 | 2016-06-01 | 相似 |
| SJ/T 11199-1999 | 压电石英晶体片 | 废止 | 1999-05-01 | 相似 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2011-08-01 | 相似 |
| GB/T 43894.1-2024 | 半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分：高度径向二阶导数法（ZDD） | 现行 | 2024-11-01 | 相似 |
| GB/T 26071-2018 | 太阳能电池用硅单晶片 | 废止 | 2019-06-01 | 相似 |
| GB/T 16595-2019 | 晶片通用网格规范 | 现行 | 2020-02-01 | 相似 |
| GB/T 14140-2025 | 半导体晶片直径测试方法 | 现行 | 2026-02-01 | 相似 |
| GB/T 13387-2009 | 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法 | 现行 | 2010-06-01 | 相似 |
| GB/T 30118-2013 | 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法 | 现行 | 2014-05-15 | 相似 |
| GB/T 44631-2024 | 晶片承载器传输并行接口要求 | 现行 | 2025-04-01 | 相似 |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2024-03-01 | 相似 |
| GB/T 16596-2019 | 确定晶片坐标系规范 | 现行 | 2020-02-01 | 相似 |
| GB/T 26066-2010 | 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法 | 现行 | 2011-10-01 | 相似 |