Special products of silicon carbide - Kiln furniture of reaction bonded silicon carbide - Part 1：Beam
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 41765-2022 | 碳化硅单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2023-05-01 | 找相似 |
| GB/T 30868-2025 | 碳化硅单晶片微管密度测试方法 | 现行 | 2026-02-01 | 找相似 |
| GB/T 41736-2022 | 高体积分数碳化硅颗粒铝基复合材料 | 现行 | 2023-05-01 | 找相似 |
| GB/T 42902-2023 | 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| GB/T 47082-2026 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 | 即将实施 | 2026-08-01 | 找相似 |
| GB/T 2480-2022 | 普通磨料 碳化硅 | 现行 | 2022-10-01 | 找相似 |
| GB/T 30656-2023 | 碳化硅单晶抛光片 | 现行 | 2023-10-01 | 找相似 |
| GB/T 32978-2016 | 碳化硅质高温陶瓷过滤元件 | 现行 | 2017-07-01 | 找相似 |
| T/CI 962-2025 | 碳化硅陶瓷基复合材料 | 现行 | 2025-04-15 | —— |
| T/ZJCX 0049-2024 | 碳化硅衬底激光剥离设备 | 现行 | 2024-12-25 | —— |
| T/CASAS 004.2-2018 | 4H碳化硅衬底及外延层缺陷图谱 | 现行 | 2018-11-20 | —— |
| T/CASAS 004.1-2018 | 4H碳化硅衬底及外延层缺陷术语 | 现行 | 2018-11-20 | —— |
| T/CASAS 003-2018 | p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片 | 现行 | 2018-11-20 | —— |
| T/ZZB 2283-2021 | 半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉 | 现行 | 2021-09-26 | —— |
| T/SCS 000012-2021 | 碳化硼-碳化硅芯块 微量元素的测定 电感 耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2021-06-30 | —— |
| T/SCS 000013-2021 | 碳化硼-碳化硅芯块 无机阴离子（F-、Cl-、Br-、I-）的测定 离子色谱法 | 现行 | 2021-06-01 | —— |
| T/CFA 02020501042-2023 | 铸造熔炼用碳化硅 | 现行 | 2023-06-01 | —— |
| T/CIET 1279-2025 | 碳化硅单晶生长技术规范 物理气相传输法（PVT） | 现行 | 2025-05-14 | —— |