| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 32278-2025 | 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法 | 现行 | 2026-02-01 | 找相似 |
| DB31/T 792-2026 | 硅单晶棒及单晶硅片单位产品能源消耗限额 [上海市] | 现行 | 2026-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 11864-2022 | 半绝缘型碳化硅单晶衬底 | 现行 | 2023-01-01 | 找相似 |
| DB31/ 792-2020 | 硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 [上海市] | 有更新版 | 2020-06-01 | 找相似 |
| GB/T 26071-2026 | 太阳能电池用硅单晶及硅单晶片 | 即将实施 | 2026-08-01 | 找相似 |
| GB/T 25076-2018 | 太阳能电池用硅单晶 | 废止 | 2019-06-01 | 找相似 |
| GB/T 10067.417-2023 | 电热和电磁处理装置基本技术条件 第417部分：碳化硅单晶生长装置 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| GB/T 41765-2022 | 碳化硅单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2023-05-01 | 找相似 |
| GB/T 30868-2025 | 碳化硅单晶片微管密度测试方法 | 现行 | 2026-02-01 | 找相似 |
| GB/T 41325-2022 | 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片 | 现行 | 2022-10-01 | 找相似 |
| GB/T 29508-2013 | 300mm 硅单晶切割片和磨削片 | 现行 | 2014-02-01 | 找相似 |
| GB/T 47082-2026 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 | 即将实施 | 2026-08-01 | 找相似 |
| GB/T 30656-2023 | 碳化硅单晶抛光片 | 现行 | 2023-10-01 | 找相似 |
| GB/T 29506-2013 | 300mm 硅单晶抛光片 | 现行 | 2014-02-01 | 找相似 |
| T/ZZB 2283-2021 | 半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉 | 现行 | 2021-09-26 | —— |
| T/NXCL 30-2024 | 300 mm低氧含量直拉硅单晶 | 现行 | 2024-02-06 | —— |
| T/NXCL 29-2024 | 300 mm低氧含量直拉硅单晶抛光片 | 现行 | 2024-02-06 | —— |
| T/CIET 1279-2025 | 碳化硅单晶生长技术规范 物理气相传输法（PVT） | 现行 | 2025-05-14 | —— |