半导体设备用低温泵评价规范

Evaluation specification for cryogenic vacuum pumps used in semiconductor equipment

T/GVS 014-2024科学研究和技术服务业

现行

更新日期:2026-03-29

标准状态

发布日期

2024-08-02

实施日期

2024-08-02

基础信息

标准号

T/GVS 014-2024

包含专利

否

标准分类

中国标准分类号

J 78

国际标准分类号

23.160

标准层级

团体标准

适用范围

本文件规定了半导体设备用低温泵评价的分类、基本要求、评价要求、评价方法、评价结果。本文件适用于半导体设备用低温泵的评价。

主要技术内容

本文件规定了半导体设备用低温泵评价的分类、基本要求、评价要求、评价方法、评价结果。本文件适用于半导体设备用低温泵的评价。

起草单位

中山凯旋真空科技股份有限公司、上海纳乇真空技术有限公司、中国科学技术大学、散裂中子源科学中心、中山市深中标准质量研究中心、佛仪科技(佛山)有限公司、佛山力合创新中心有限公司

起草人

胡湘娥、黎树中、李晓刚、叶俊文、王鹏程、胡勇、王楠茜、陈淑曲、余彦飞、肖永能、林涛、欧慧敏

T/GVS 014-2024 相关专题

T/GVS 014-2024 相似标准

标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/QGCML 4534-2024木质建材全生命周期碳排放评价技术规范现行2024-08-022024-08-17
GB/T 8750-2022半导体封装用金基键合丝、带(外文版EN)现行2022-12-30
YS/T 1879-2026半导体用高纯铝及铝合金圆铸锭即将实施2026-07-152027-02-01
GB/T 48164.1-2026半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第1部分:偏置温度不稳定性试验方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48164.2-2026半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第2部分:体二极管工作引起双极退化的试验方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48120-2026精细陶瓷 室内照明环境下半导体光催化材料测试用LED光源即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48099-2026半导体封装用带预制焊环盖板即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 15879.616-2026半导体器件的机械标准化 第6-16部分:焊球阵列封装(BGA)、焊盘阵列封装(LGA)、密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)的半导体试验和老化插座术语表即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 20521.12-2026半导体器件 第14-12部分:半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48118-2026功率半导体模块用陶瓷覆铜板即将实施2026-08-282027-03-01
SJ/T 12068-2025半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12067-2025半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管门类规范现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 11856.5-2025光纤通信用半导体激光器芯片技术规范 第5部分:单模泵浦用半导体激光器芯片现行2025-12-192026-07-01
YS/T 1850-2026半导体封装用键合丝母材即将实施2026-04-152026-11-01
JJF 1236-2010半导体管特性图示仪校准规范现行2010-01-052010-04-05
SJ/T 12032-2025半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12005-2025功率半导体封装用活性金属钎焊(AMB)氮化硅陶瓷覆铜基板现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12006-2025功率半导体封装用活性金属钎焊(AMB)氮化铝陶瓷覆铜基板现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12021-2025功率半导体模块用环氧灌封胶现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12022-2025功率半导体模块用有机硅凝胶现行2025-09-092026-03-01