Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/ZSA 231-2024 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2024-05-15 | 2024-05-16 |
| T/IAWBS 016-2022 | 碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2022-03-17 | 2022-03-24 |
| T/IAWBS 015-2021 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2021-09-15 | 2021-09-22 |
| T/ZZB 0497-2018 | 声表面波器件用单晶晶片 | 现行 | 2018-08-31 | 2018-09-30 |
| GB/T 5238-2009 | 锗单晶和锗单晶片（外文版EN） | 废止 | 2018-06-07 | |
| GB/T 32278-2015 | 碳化硅单晶片平整度测试方法 | 废止 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| GB/T 30866-2014 | 碳化硅单晶片直径测试方法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| GB/T 30867-2014 | 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| GB/T 5238-2009 | 锗单晶和锗单晶片 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| DB12/T 101.251-2003 | 工业产品取水定额 硅单晶片 | 废止 | 2003-09-03 | 2003-09-03 |
| T/ZZB 0497-2018 | 声表面波器件用单晶晶片 | 现行 | 2018-08-31 | 2018-09-30 |
| NB/T 10965-2022 | 采煤工作面低位抽采巷技术规范 | 现行 | 2022-05-13 | 2022-11-13 |
| DB6103/T 42-2023 | 苹果树主干低位嫁接技术规范 | 现行 | 2023-07-10 | 2023-08-30 |
| T/CALI 0402-2022 | LED道路低位照明灯具技术规范 | 现行 | 2022-04-06 | 2022-04-06 |
| GB/T 20132-2006 | 船舶与海上技术 客船低位照明 布置 | 废止 | 2006-03-10 | 2006-10-01 |
| GB/T 20132-2019 | 船舶和海上技术 客船低位照明 布置 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-01-01 |
| DB43/T 2880-2023 | 油茶低位截干萌条嫁接技术规程 | 有更新版 | 2023-12-20 | 2024-03-20 |
| GB/T 32282-2015 | 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |