| JC/T 2331-2015 | 陶瓷抛光砖表面用防污剂 | 现行 | 2016-01-01 | 找相似 |
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| GB/T 14057.2-2011 | 放射性污染表面去污 第2部分：纺织品去污剂的试验方法 | 废止 | 2011-12-01 | 找相似 |
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| GB/T 6624-2009 | 硅抛光片表面质量目测检验方法 | 现行 | 2010-06-01 | 找相似 |
| YS/T 25-1992 | 硅抛光片表面清洗方法 | 现行 | 1993-01-01 | 找相似 |
| HG/T 4079-2009 | 金属抛光表面质量检测及评判规则 | 现行 | 2009-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43313-2023 | 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法 | 现行 | 2024-06-01 | 找相似 |
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| GB/T 19921-2005 | 硅抛光片表面颗粒测试方法 | 废止 | 2006-04-01 | 找相似 |
| GB/T 34504-2017 | 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法 | 废止 | 2018-05-01 | 找相似 |
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