Determination for the orientation of refractory metal single crystal
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 39137-2020 | 难熔金属单晶晶向测定方法 | 现行 | 2021-09-01 | 找相似 |
| GB/T 1555-2023 | 半导体单晶晶向测定方法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| GB/T 34210-2017 | 蓝宝石单晶晶向测定方法 | 现行 | 2018-06-01 | 找相似 |
| GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 30118-2013 | 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法 | 现行 | 2014-05-15 | 找相似 |
| SJ/T 11501-2015 | 碳化硅单晶晶型的测试方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| SJ/T 11500-2015 | 碳化硅单晶晶向的测试方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| T/CECA 83-2023 | 钽酸锂和铌酸锂还原单晶晶片 明度和色差技术要求及测量方法 | 现行 | 2023-06-20 | —— |
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| GB/T 31092-2022 | 蓝宝石单晶晶棒 | 现行 | 2023-07-01 | 找相似 |
| GB/T 42676-2023 | 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
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| T/ZZB 0497-2018 | 声表面波器件用单晶晶片 | 现行 | 2018-09-30 | —— |
| JY/T 0588-2020 | 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则 | 现行 | 2020-12-01 | 找相似 |
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| GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
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