SJ/T 12093-2025 相似标准 第7页

更新时间 2026-10-28
标准号标准名称状态实施日期相似标准
GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法废止2015-02-01找相似
GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法废止2015-02-01找相似
GB/T 43894.3-2026半导体晶片近边缘几何形态评价 第3部分:扇形区域平整度法(ESFQR、ESFQD、ESBIR)即将实施2027-02-01找相似
GB/T 16596-1996确定晶片坐标系规范废止1997-04-01找相似
GB/T 16595-1996晶片通用网格规范废止1997-04-01找相似
GB/T 5238-2009锗单晶和锗单晶片废止2010-06-01找相似
DB12/T 101.251-2003工业产品取水定额 硅单晶片废止2003-09-03找相似
GB/T 47909-2026金刚石多晶片即将实施2027-02-01找相似
T/ZSA 38-2020SiC晶片的残余应力检测方法现行2020-12-18——
T/IAWBS 008-2019SiC晶片的残余应力检测方法现行2019-12-31——
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-31——
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-31——
T/CASAS 003-2018p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片现行2018-11-20——
T/WLJC 59-2019石英晶片倒边波形筒现行2019-04-22——
T/ZZB 0497-2018声表面波器件用单晶晶片现行2018-09-30——
YS/T 1703-2024晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法现行2025-05-01找相似
T/CECA 48-2021石英晶体微天平晶片现行2021-03-15——
T/IAWBS 021-2024碳化硅晶片边缘轮廓检验方法现行2024-04-09——