Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16: Particle impact noise detection(PIND)
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
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| T/CI 544-2024 | 低维半导体材料生长 、表征及电子元器件制作流程规范 | 现行 | 2024-10-08 | —— |
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