Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| T/SSEA 0069-2020 | 棒材弯曲度测量方法 | 现行 | 2020-09-10 | —— |
| GB/T 26067-2010 | 硅片切口尺寸测试方法 | 现行 | 2011-10-01 | 找相似 |
| GB/T 6621-2009 | 硅片表面平整度测试方法 | 现行 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 6618-2009 | 硅片厚度和总厚度变化测试方法 | 现行 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 13388-2009 | 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 | 现行 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 30869-2014 | 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法 | 现行 | 2015-02-01 | 找相似 |
| GB/T 42789-2023 | 硅片表面光泽度的测试方法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| GB/T 30860-2014 | 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法 | 现行 | 2015-04-01 | 找相似 |
| GB/T 19444-2025 | 硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法 | 现行 | 2026-01-01 | 找相似 |
| GB/T 40279-2021 | 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 | 现行 | 2022-03-01 | 找相似 |
| GB/T 42789-2023 | 硅片表面光泽度的测试方法（外文版EN） | 现行 | —— | 找相似 |
| SJ/T 11628-2016 | 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法 | 现行 | 2016-09-01 | 找相似 |
| SJ/T 11627-2016 | 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法 | 现行 | 2016-09-01 | 找相似 |
| SJ/T 11632-2016 | 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法 | 现行 | 2016-09-01 | 找相似 |
| SJ/T 11630-2016 | 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法 | 现行 | 2016-09-01 | 找相似 |
| SJ/T 11631-2016 | 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法 | 现行 | 2016-09-01 | 找相似 |
| GB/T 24578-2015 | 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法 | 废止 | 2017-01-01 | 找相似 |
| GB/T 33523.604-2022 | 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 区域法 第604部分：非接触（相干扫描干涉）式仪器的标称特性 | 现行 | 2023-04-01 | 找相似 |