硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法

Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method

GB/T 32280-2015推荐性国家标准

废止

GB/T 32280-2015 相似标准 第3页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态实施日期相似标准
SJ/T 11602-2016信息技术 非接触式一维码扫描枪通用规范现行2016-06-01找相似
SJ/T 11601-2016信息技术 非接触式二维码扫描枪通用规范现行2016-06-01找相似
GB/T 32279-2015硅片订货单格式输入规范现行2017-01-01找相似
GB/T 24577-2009热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物现行2010-06-01找相似
DB15/T 4004-2025温室气体 产品碳足迹量化方法与要求 光伏硅片现行2025-05-18找相似
GB/T 30701-2014表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定现行2014-12-01找相似
GB/T 29505-2013硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法现行2014-02-01找相似
GB/T 34479-2017硅片字母数字标志规范现行2018-07-01找相似
GB/T 32814-2016硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范现行2017-03-01找相似
GB/T 6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法现行2010-06-01找相似
YB/T 4397-2014切割硅片用电镀黄铜钢丝现行2014-10-01找相似
JC/T 2065-2011太阳能电池硅片用石英舟现行2012-07-01找相似
JC/T 2066-2011太阳能电池硅片用石英玻璃扩散管现行2012-07-01找相似
HG/T 5962-2021硅片切割废液处理处置方法现行2022-02-01找相似
GB/T 37051-2018太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法现行2019-04-01找相似
GB/T 43315-2023硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法现行2024-06-01找相似
DB31/T 792-2026硅单晶棒及单晶硅片单位产品能源消耗限额现行2026-06-01找相似
GB/T 40110-2021表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染现行2021-12-01找相似