JB/T 10181.2-2000 相似标准 第3页

更新时间 2026-10-27
标准号标准名称状态实施日期相似标准
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GB/T 45719-2025半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验现行2025-09-01找相似
GB/T 8757-2006砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法现行2006-11-01找相似
GB/T 36705-2018氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法现行2019-06-01找相似
GB/T 42907-2023硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法现行2024-03-01找相似
GB/T 14146-2021硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法现行2021-12-01找相似
GB/T 11068-2006砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法现行2006-11-01找相似
T/SAMD 0012-2024医用电子仪器生产过程检验应用指南 阻抗及载流能力试验现行2024-11-14——
T/CASAS 026-2023碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法现行2023-06-19——
T/IAWBS 003-2017碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法现行2017-12-31——
YS/T 679-2018非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法现行2019-04-01找相似
YS/T 679-2008非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法废止2008-09-01找相似
GB/T 1553-2009硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法废止2010-06-01找相似