主要技术内容
本部分规定了工业级高可靠图像传感器的检测要求、检测方法和检验规则等。本部分适用于工业级高可靠图像传感器（CMOS、CCD）的鉴定验收和评价检测活动。
Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits—Part 14:Imaging sensor
现行
2020-06-08
2020-08-15
T/CIE 079-2020
中国电子学会
否
31.020
I6520 集成电路设计
团体标准
本部分规定了工业级高可靠图像传感器的检测要求、检测方法和检验规则等。本部分适用于工业级高可靠图像传感器（CMOS、CCD）的鉴定验收和评价检测活动。
北京芯可鉴科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、杭州万高科技股份有限公司、国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司、北京银联金卡科技有限公司、辰芯科技有限公司、北京全路通信信号研究设计院有限公司、中国铁道科学研究院集团有限公司通信信号研究所、南方电网公司数字电网研究院有限公司、中国科学院半导体研究所、武汉理工大学
赵东艳、王于波、杜剑、陈燕宁、李延、邵瑾、杨季、郁文、付振、朱松超、刘芳、黄海潮、朱珊珊、王帅鹏、洪艳艳、王峥、崔国宇、万勇、隈合朋、王宏光、任军、赵阳、于健洁、尹旭、田兵、杨晋玲、谭刚健
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10085-1991 | 半导体集成电路CT54H74/CT74H74型双上升沿D触发器 (有预置端,清除端) | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| GB/T 43536.2-2023 | 三维集成电路 第2部分：微间距叠层芯片的校准要求 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-04-01 |
| YB/T 100-2016 | 集成电路引线框架用4J42K合金冷轧带材 | 现行 | 2016-10-22 | 2017-04-01 |
| T/ICMTIA BS0030-2022 | 集成电路材料产品分类 | 现行 | 2022-07-04 | 2022-07-31 |
| GB/T 15651.2-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| JR/T 0025.7-2018 | 中国金融集成电路（IC）卡规范 第7部分：借记/贷记应用安全规范 | 现行 | 2018-11-28 | 2018-11-28 |
| GB/T 16878-1997 | 用于集成电路制造技术的检测图形单元规范 | 现行 | 1997-06-20 | 1998-03-01 |
| GB/T 36474-2018 | 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| GB/T 17574.11-2006 | 半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 | 现行 | 2006-12-05 | 2007-05-01 |
| SJ/T 11220-2000 | 集成电路卡通用规范 第1部分：卡片基本规范 | 现行 | 2000-05-31 | 2000-10-01 |
| JR/T 0025.12-2018 | 中国金融集成电路（IC）卡规范 第12部分：非接触式IC卡支付规范 | 现行 | 2018-11-28 | 2018-11-28 |
| SJ/T 10253-1991 | 半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环详细规范 | 现行 | 1991-11-12 | 1992-01-01 |
| GB/T 42835-2023 | 半导体集成电路 片上系统（SoC） | 现行 | 2023-08-06 | 2023-12-01 |
| YD/T 2845-2015 | 嵌入式通用集成电路卡（eUICC）及其远程管理的安全技术要求（第一阶段） | 现行 | 2015-05-05 | 2015-07-01 |
| GB/T 43748-2024 | 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| YD/T 3037.1.1-2016 | 通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性测试方法 第1部分：终端 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-07-01 |
| SJ/T 10079-1991 | 半导体集成电路CT54182/CT74182型超前进位产生器 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| T/CIE 070-2020 | 工业级高可靠集成电路评价 第4部分： 非易失性存储器 | 现行 | 2020-06-08 | 2020-08-15 |
| GB/T 14115-1993 | 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-01-21 | 1993-08-01 |
| SJ/T 10260-1991 | 半导体集成电路CD7232CS双音频放大器详细规范 | 现行 | 1991-11-12 | 1992-01-01 |
| GB/T 36636-2018 | 识别卡 双界面集成电路卡模块规范（外文版EN） | 现行 | 2022-12-28 | |
| SJ/T 10266-1991 | 半导体集成电路CF714型精密带运算放大器详细规范 | 现行 | 1991-11-12 | 1992-01-01 |
| GB/T 18500.2-2001 | 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范 | 现行 | 2001-11-05 | 2002-06-01 |
| GB/T 43034.3-2023 | 集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| SJ/T 10269-1991 | 半导体集成电路CF155/CF255/CF355型JFET输入运算放大器详细规范(可供认证用) | 现行 | 1991-11-12 | 1992-01-01 |
| T/CIE 080-2020 | 工业级高可靠集成电路评价 第15部分： 超高频射频识别 | 现行 | 2020-06-08 | 2020-08-15 |