| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10481-1994 | 硅外延层电阻率的面接触三探针方法 | 现行 | 1994-10-01 | 找相似 |
| GB/T 14141-2009 | 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 | 现行 | 2010-06-01 | 找相似 |
| YS/T 602-2017 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 现行 | 2018-01-01 | 找相似 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-10-01 | 找相似 |
| T/CASAS 019-2021 | 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法 | 现行 | 2021-12-01 | —— |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-10-24 | —— |
| YS/T 602-2007 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 废止 | 2008-05-01 | 找相似 |
| DB13/T 5026.3-2019 | 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分：浆料极片电阻率的测定 四探针法 [河北省] | 废止 | 2019-08-01 | 找相似 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-10-24 | —— |
| GB/T 1551-2021 | 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| GB/T 6617-2009 | 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 | 现行 | 2010-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 10314-1992 | 直流四探针电阻率测试通用技术条件 | 现行 | 1992-12-01 | 找相似 |
| GB/T 39978-2021 | 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| JJG 508-2004 | 四探针电阻率测试仪 | 现行 | 2005-03-21 | 找相似 |
| GB/T 42271-2022 | 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 | 现行 | 2023-04-01 | 找相似 |
| GB/T 40007-2021 | 纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| T/CPIA 0051-2023 | 晶体硅光伏电池金属电极接触电阻率测试方法 传输线模型法（TLM） | 现行 | 2023-10-30 | —— |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |