| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 22881-2008 | 纸和纸板 粗糙度（平滑度）的测定（空气泄漏法） 通用方法 | 现行 | 2008-12-30 | 2009-09-01 |
| CY/T 104.7-2014 | 印刷技术 纸和纸板印刷适性测试方法 第7部分：印刷粗糙度 | 现行 | 2014-07-16 | 2014-07-16 |
| EJ/T 787-1993 | 烧结二氧化铀芯块外形尺寸和粗糙度检验方法 | 废止 | 1993-12-13 | 1994-05-01 |
| QB 1056-1991 | 本特生式粗糙度测定仪 | 现行 | 1991-06-04 | 1992-01-01 |
| FZ/T 01115-2012 | 织物表面粗糙性能的试验方法 | 现行 | 2012-12-28 | 2013-06-01 |
| GB/T 6621-2009 | 硅片表面平整度测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 24577-2009 | 热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 30701-2014 | 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 42789-2023 | 硅片表面光泽度的测试方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 40110-2021 | 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 39145-2020 | 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2020-10-11 | 2021-09-01 |
| GB/T 40279-2021 | 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| GB/T 42789-2023 | 硅片表面光泽度的测试方法（外文版EN） | 现行 | 2024-04-12 | |
| GB/T 47906-2026 | 300mm硅片表面纳米形貌的评价方法 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| GB/T 24578-2015 | 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法 | 废止 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| SJ/T 10627-1995 | 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 | 废止 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |