块状氧化物超导体磁浮力的测量

Measurement for levitation force of bulk oxide superconductor

GB/T 21115-2007推荐性国家标准

现行

GB/T 21115-2007 相似标准 第3页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态实施日期相似标准
T/ZZB 1666-2020半硬质聚氯乙烯复合块状地板现行2020-07-30——
T/HYMJ 001-2018黄岩区塑料模具块状产业模具产品质量控制要求现行2018-05-18——
ZJM-003-3691-2020半硬质聚氯乙烯复合块状地板现行2020-10-15——
GB/T 15652-1995金属氧化物半导体气敏元件总规范现行1996-04-01找相似
GB/T 15653-1995金属氧化物半导体气敏元件测试方法现行1996-04-01找相似
GB/T 45716-2025半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验现行2025-09-01找相似
GB/T 45719-2025半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验现行2025-09-01找相似
SJ/T 9014.8.2-2018半导体器件 分立器件第8-2部分:超结金属氧化物半导体场效应晶体管空白详细规范现行2018-07-01找相似
T/CIECCPA 007-2024半导体工业氮氧化物排放要求现行2024-03-08——
T/CASAS 016-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)结壳热阻瞬态双界面测试方法现行2022-07-18——
T/CASAS 015-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)功率循环试验方法现行2022-07-18——
T/CASAS 006-2020碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范现行2021-01-01——
SJ/T 11824-2022金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET)等效电容和电压变化率测试方法现行2023-01-01找相似
GB/T 46789-2025半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的可动离子试验即将实施2026-07-01找相似
T/CASAS 006-2020碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范现行2021-01-01——
T/CECA 35-2019金属氧化物半导体气体传感器现行2020-01-28——
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GB/T 45716.1-2026半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 第1部分:MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验即将实施2026-11-01找相似