集成电路高温动态老化系统校准规范

Calibration Specification of High Temperature Dynamic IC Burn-in System

JJF 1179-2007计量规范

现行

JJF 1179-2007 相似标准 第1页

更新时间 2026-10-31
标准号标准名称状态实施日期相似标准
JJF 1179-2007集成电路高温动态老化系统校准规范现行2007-09-14找相似
GB/T 17574.10-2003半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范现行2004-08-01找相似
GB/T 36474-2018半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法现行2019-01-01找相似
GB/T 42968.5-2025集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分:工作台法拉第笼法现行2025-12-02找相似
GB/T 6798-1996半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理现行1997-01-01找相似
JR/T 0025.7-2018中国金融集成电路(IC)卡规范 第7部分:借记/贷记应用安全规范现行2018-11-28找相似
JR/T 0025.14-2018中国金融集成电路(IC)卡规范 第14部分:非接触式IC卡小额支付扩展应用规范现行2018-11-28找相似
YD/T 3037.1-2023通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端现行2024-04-01找相似
JR/T 0025.18-2018中国金融集成电路(IC)卡规范 第18部分:基于安全芯片的线上支付技术规范现行2018-11-28找相似
JR/T 0025.4-2018中国金融集成电路(IC)卡规范 第4部分:借记/贷记应用规范现行2018-11-28找相似
JR/T 0025.6-2018中国金融集成电路(IC)卡规范 第6部分:借记/贷记应用终端规范现行2018-11-28找相似
GB/T 14028-2018半导体集成电路 模拟开关测试方法现行2018-08-01找相似
JR/T 0045.1-2014中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第1部分:借记/贷记应用卡片检测规范现行2014-07-30找相似
GB/T 43226-2023宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法现行2024-01-01找相似
GB/T 42838-2023半导体集成电路 霍尔电路测试方法现行2023-12-01找相似
GB/T 40577-2021集成电路制造设备术语现行2022-05-01找相似
JR/T 0025.10-2018中国金融集成电路(IC)卡规范 第10部分:借记/贷记应用个人化指南现行2018-11-28找相似
JR/T 0045.3-2014中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分:借记/贷记应用个人化检测规范现行2014-07-30找相似