Series and products for CMOS semiconductor integrated circuits--Products of series 54/74 HC
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 35006-2018 | 半导体集成电路 电平转换器测试方法 | 现行 | 2018-08-01 | 找相似 |
| GB/T 44924-2024 | 半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法 | 现行 | 2025-04-01 | 找相似 |
| GB/T 36474-2018 | 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 | 现行 | 2019-01-01 | 找相似 |
| GB/T 14032-1992 | 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 42837-2023 | 微波半导体集成电路 放大器 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| GB/T 7092-2021 | 半导体集成电路外形尺寸 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 3431.2-1986 | 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号 | 现行 | 1987-04-01 | 找相似 |
| GB/T 43061-2023 | 半导体集成电路 PWM控制器测试方法 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
| GB/T 38345-2019 | 宇航用半导体集成电路通用设计要求 | 现行 | 2020-07-01 | 找相似 |
| GB/T 36477-2018 | 半导体集成电路 快闪存储器测试方法 | 现行 | 2019-01-01 | 找相似 |
| GB/T 14115-1993 | 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 42975-2023 | 半导体集成电路 驱动器测试方法 | 现行 | 2024-01-01 | 找相似 |
| GB/T 42835-2023 | 半导体集成电路 片上系统（SoC） | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| T/CESA 1266-2023 | 半导体集成电路 光互连接口技术要求 | 现行 | 2023-08-01 | —— |
| T/CESA 1081-2020 | 半导体集成电路制造业 晶圆 绿色工厂评价要求 | 现行 | 2020-06-20 | —— |
| SJ/T 10079-1991 | 半导体集成电路CT54182/CT74182型超前进位产生器 | 现行 | 1991-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 10335-1993 | 半导体集成电路电视机电路系品种 | 现行 | 1993-10-01 | 找相似 |
| SJ/T 10254-1991 | 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范 | 现行 | 1992-01-01 | 找相似 |