JB/T 5203-2023 相似标准 第6页

更新时间 2026-10-27
标准号标准名称状态实施日期相似标准
SJ/T 11207-1999钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法现行1999-12-01找相似
GB/T 32188-2015氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2016-11-01找相似
GB/T 46227-2025半导体单晶材料透过率测试方法即将实施2026-03-01找相似
GB/T 5252-2020锗单晶位错密度的测试方法现行2021-05-01找相似
GB/T 26074-2010锗单晶电阻率直流四探针测量方法现行2011-10-01找相似
GB/T 8760-2020砷化镓单晶位错密度的测试方法现行2021-08-01找相似
GB/T 18032-2000砷化镓单晶AB微缺陷检验方法现行2000-09-01找相似
GB/T 47080-2026金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法即将实施2026-08-01找相似
GB/T 41765-2022碳化硅单晶位错密度的测试方法现行2023-05-01找相似
GB/T 30868-2025碳化硅单晶片微管密度测试方法现行2026-02-01找相似
GB/T 34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法现行2018-07-01找相似
GB/T 34210-2017蓝宝石单晶晶向测定方法现行2018-06-01找相似
GB/T 47082-2026碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法即将实施2026-08-01找相似
GB/T 4326-2025非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法即将实施2026-05-01找相似
T/ZSA 231-2024氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2024-05-16——
T/CASAS 036-2025碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定方法 辉光放电质谱法现行2025-04-23——
T/IAWBS 016-2022碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法现行2022-03-24——
T/IAWBS 015-2021氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2021-09-22——