半导体封装用键合金丝

Gold bonding wire for semiconductor package

T/ZZB 1718-2020制造业

现行

标准状态

发布日期

2020-09-30

实施日期

2020-10-30

基础信息

标准号

T/ZZB 1718-2020

团体名称

浙江省品牌建设联合会

包含专利

标准分类

中国标准分类号

H68

国际标准分类号

77.150.99 其他有色金属产品

行业分类

C324 有色金属合金制造

标准层级

团体标准

主要技术内容

本标准规定了半导体封装用键合金丝(以下简称金丝)的基本要求、产品分类和标记、技术要求、试验方法、检测规则、标志、包装、运输和贮存、质量证明书、质量承诺。本标准适用于半导体分立器件、集成电路、LED封装用键合金丝。

起草单位

浙江佳博科技股份有限公司、温州标准化科学研究院、浙江和睿半导体科技有限公司

起草人

薛子夜、祖洁、孔祥威、刘桂、郑玺、赵义东、谢海涛、陈雪平、郑怡博、郑鲁环

T/ZZB 1718-2020 相关专题

T/ZZB 1718-2020 相似标准

标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/CASAS 006-2020碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范现行2020-12-282021-01-01
T/CASAS 002-2021宽禁带半导体术语现行2021-03-082021-03-08
T/IAWBS 004-2021电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法现行2021-09-162021-09-23
T/CASAS 017-2021第三代半导体 微纳米金属烧结技术 术语现行2021-11-012021-12-01
T/GVS 005-2022半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范现行2022-03-282022-03-28
T/GVS 006-2022半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳定性测量方法现行2022-05-272022-05-27
T/CASAS 015-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)功率循环试验方法现行2022-07-182022-07-18
T/CASAS 016-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)结壳热阻瞬态双界面测试方法现行2022-07-182022-07-18
T/SZBSIA 006-2022IC类半导体固晶机技术规范现行2022-09-232022-09-24
T/SZBSIA 007-2022IC类半导体固晶机检测规范现行2022-09-232022-09-24
T/AHEPI 04-2022温室气体通量监测技术规范 可调谐半导体激光吸收光谱法现行2022-12-202023-01-03
T/CPSS 1004-2025车规级功率半导体模块动态特性测试规范现行2025-01-222025-01-23
T/SICA 008-2025半导体IBO套刻设备验收规范现行2025-06-032025-07-03
T/GSEE 0011-2023高压交流电路半导体开关设备技术规范现行2023-12-052023-12-05
T/NXCL 28-2024半导体级单晶硅生长用合成石英坩埚现行2024-02-022024-02-02
T/CIECCPA 007-2024半导体工业氮氧化物排放要求现行2024-03-042024-03-08
T/QGCML 3956-2024半导体实验室恒湿温试验管理平台现行2024-03-272024-04-11
T/QGCML 3970-2024半导体车间金属粉尘智能检测分析系统现行2024-03-272024-04-11
T/GVS 014-2024半导体设备用低温泵评价规范现行2024-08-022024-08-02
T/GVS 005-2022 (2)半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范现行2022-03-282022-03-28
T/QGCML 1407-2023半导体光伏制造用双套管密封装置现行2023-09-142023-09-30
T/CCGA 90004-2023半导体用尾气处理设备分解 移除效率的测试方法现行2023-12-182024-01-18
T/ZZB 2283-2021半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉现行2021-08-262021-09-26
T/CEMIA 036-2023半导体显示用高碱浓度负胶显影液现行2023-11-062023-11-30
T/ZZB 1719-2020内窥镜蛇骨现行2020-09-302020-10-30