| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 40110-2021 | 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| SJ/T 10627-1995 | 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法 | 现行 | 1995-10-01 | 找相似 |
| GB/T 30860-2014 | 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法 | 现行 | 2015-04-01 | 找相似 |
| GB/T 42907-2023 | 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| GB/T 30859-2014 | 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 | 现行 | 2015-04-01 | 找相似 |
| GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 | 废止 | 2008-02-01 | 找相似 |
| GB/T 29055-2019 | 太阳能电池用多晶硅片 | 现行 | 2020-05-01 | 找相似 |
| GB/T 19444-2025 | 硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法 | 现行 | 2026-01-01 | 找相似 |
| GB/T 39145-2020 | 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2021-09-01 | 找相似 |
| GB/T 32281-2015 | 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2017-01-01 | 找相似 |
| GB/T 40279-2021 | 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 | 现行 | 2022-03-01 | 找相似 |
| GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 即将实施 | 2026-05-01 | 找相似 |
| T/QGCML 2024-2023 | 掺镓硅片技术生产管理办法 | 现行 | 2023-11-24 | —— |
| T/CPIA 0061-2024 | 质量分级及“领跑者”评价要求 光伏硅片 | 现行 | 2024-03-15 | —— |
| T/CPIA 0057-2024 | 光伏硅片多线切割机技术要求 | 现行 | 2024-03-15 | —— |
| T/CPIA 0038-2022 | 光伏硅片切割用电镀金刚石线 | 现行 | 2022-04-15 | —— |
| T/CPIA 0037-2022 | 光伏晶体硅片规范 | 现行 | 2022-04-15 | —— |
| T/CPIA 0022-2020 | 光伏硅片制造业绿色工厂评价要求 | 现行 | 2020-03-20 | —— |