| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 12962-2015 | 硅单晶 | 现行 | 2017-01-01 | 找相似 |
| GB/T 26065-2010 | 硅单晶抛光试验片规范 | 现行 | 2011-10-01 | 找相似 |
| GB/T 24581-2022 | 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 现行 | 2022-10-01 | 找相似 |
| GB/T 42263-2022 | 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2023-04-01 | 找相似 |
| GB/T 26071-2018 | 太阳能电池用硅单晶片 | 废止 | 2019-06-01 | 找相似 |
| GB/T 1551-2021 | 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| GB/T 42271-2022 | 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 | 现行 | 2023-04-01 | 找相似 |
| GB/T 41153-2021 | 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 13389-2014 | 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 | 现行 | 2015-09-01 | 找相似 |
| GB/T 24574-2009 | 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 | 现行 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 29504-2013 | 300mm 硅单晶 | 现行 | 2014-02-01 | 找相似 |
| GB/T 12965-2018 | 硅单晶切割片和研磨片 | 现行 | 2019-06-01 | 找相似 |
| GB/T 32278-2025 | 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法 | 现行 | 2026-02-01 | 找相似 |
| SJ/T 11864-2022 | 半绝缘型碳化硅单晶衬底 | 现行 | 2023-01-01 | 找相似 |
| GB/T 26071-2026 | 太阳能电池用硅单晶及硅单晶片 | 即将实施 | 2026-08-01 | 找相似 |
| GB/T 25076-2018 | 太阳能电池用硅单晶 | 废止 | 2019-06-01 | 找相似 |
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| GB/T 41765-2022 | 碳化硅单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2023-05-01 | 找相似 |